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Author
Humm, Bernhard
(2)
Lingner, Stephan
(2)
Schmidt, Jan
(2)
Wendland, Karsten
(2)
Bernthaler, Timo
(1)
Kopp, Andreas
(1)
Niedermeier, Jan
(1)
Schmidt, P.
(1)
Schneider, Gerhard
(1)
Year of publication
2021
(2)
2018
(1)
Document Type
Article
(2)
Conference Proceeding
(1)
Language
German
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Metrologische Computertomografie zur seriennahen Anwendung an großformatigen Batteriezellen zur Qualitäts- und Funktionsbewertung
(2018)
Niedermeier, Jan
;
Kopp, Andreas
;
Schmidt, P.
;
Bernthaler, Timo
;
Schneider, Gerhard
KI‑Systeme: Aktuelle Trends und Entwicklungen aus Perspektive der Technikfolgenabschätzung
(2021)
Humm, Bernhard
;
Lingner, Stephan
;
Schmidt, Jan
;
Wendland, Karsten
Special Topic: KI-Systeme gestalten und erfahren: Konzepte, Werte, Anwendungen
(2021)
Humm, Bernhard
;
Lingner, Stephan
;
Schmidt, Jan
;
Wendland, Karsten
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