OPUS 4 | Optik und Mechatronik

Optik und Mechatronik

Extensive microstructural quality control inside a machine tool using multiwavelength digital holography (2018)

Börret, Rainer ; Grün, Viktor ; Seewig, Jörg ; Ströer, Felix ; Seyler, Tobias ; Fratz, Markus ; Beckmann, Tobias ; Bertz, Alexander ; Carl, Daniel